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TC Wafer 产品规格对比表

TC WAFER SPECIFICATION COMPARISON

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TC Wafer 产品规格对比表

以下为 TC Wafer 晶圆测温方案在不同工艺场景下的关键规格对比,供选型参考。

规格项 / Spec Front-end/Back-end(前道/后道)
高温 K/PLⅡ · 0–1100°C
Front-end(前道)
R/S · 0–800°C
Front-end/Back-end(前道/后道)
低温 K · −100–300°C
Front-end(前道)
低温 K · −100–300°C
Temp Range 温度范围 0°C – 1100°C 0°C – 800°C −100°C – 300°C −100°C – 300°C ①
Tolerance 允差 ±1.1°C or ±0.4% of reading, whichever is greater ±1.5°C or ±0.25% of reading, whichever is greater ±1.1°C or ±0.4% of reading, whichever is greater ±1.1°C or ±0.4% of reading, whichever is greater
Accuracy 精度 <±0.1°C in cold wall chamber
<±0.3°C ± 2.0°C
<±0.1°C in cold wall chamber
<±0.1°C ± 2.0°C
<±0.1°C in hot wall chamber <±0.1°C in hot wall chamber
Wafer Size 晶圆尺寸 2 – 12 inch 4 – 12 inch 2 – 12 inch 2 – 12 inch
Number of TC 热电偶点数 1 – 24 1 – 24 1 – 24 1 – 24
TC Type 热电偶类型 K、PLⅡ R / S K K
Sensor Lead 传感器引线 Quartz / Silica Sleeving Sheath Polyimide Flat Cable Polyimide Flat Cable
Connector Type 接头类型 • D-subminiature (up to 37)
• 2-pin miniature connector plugs
Related Processes 适用工艺 • DPE/S(干法等离子刻蚀/选择性)
• EPI
• LPCVD/SACVD Cold Wall
• MCVD/MOCVD
• Ovens
• PECVD
• PVD
• RTP
• SOD
• Hot Wall
• LPCVD/SACVD Hot Wall
• RTP
• Atmospheric & Belt CVD
• Solder Reflow
• Photoresist Track Systems
• Prober Hot Plates & Chucks
说明:   Special Limits of Error(SLE);R/S 型 ±1.5 °C 或 ±0.25% 对应贵金属精密允差,符合前文 GB/T 16839.1-2018 / IEC 60584 体系。
①  “PLⅡ” 为专有热电偶类型(非标准分度号);
② K 型 ±1.1°C or ±0.4% 即 ASTM E230 K 型 Special Limits of Error(特殊限差);
③ R/S 型 ±1.5°C or ±0.25% 对应贵金属精密允差,符合 GB/T 16839.1-2018 / IEC 60584 体系。
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